生産終了した ASYELEC.01 導電性AFMプローブの1対1代替品
NanoWorld Arrow FM Iridium™ は、探針先端およびレーザー反射面（検出面）の両方にイリジウムコーティングを施したシリコン製の光てこ方式AFMプローブです。ナノスケールの電気特性測定向けに特別に開発され、Asylum Research（Oxford Instruments社）の生産終了となった導電性AFMプローブ ASYELEC.01 の完全な1対1の代替品として設計されています。
NanoWorldで実績のある Arrow FM プラットフォームをベースとしており、世界中の研究者からナノ電気計測用AFMプローブとして高い信頼を得てきたプローブ形状をそのまま継承しています。さらに、AFM探針側と、カンチレバーのレーザー反射面（検出面）の両方に耐久性の高いイリジウムコーティングを施すことで、優れた電気伝導性、鋭い探針先端形状、長寿命、そしてNanoWorld AFMプローブならではの高い製造品質を実現しています。
Arrow FM Iridium は、以下をはじめとする幅広いナノ電気計測AFM技術に最適化されています。
- 導電性原子間力顕微鏡（Conductive Atomic Force Microscopy：c-AFM）
- 電気力顕微鏡（Electric Force Microscopy：EFM）
- ケルビンプローブ力顕微鏡（Kelvin Probe Force Microscopy：KPFM）
- 走査容量顕微鏡（Scanning Capacitance Microscopy：SCM）
- 走査拡がり抵抗顕微鏡（Scanning Spreading Resistance Microscopy：SSRM）
これらをはじめ、高い電気伝導性と優れた空間分解能の両方が求められる各種電気特性評価アプリケーションに適しています。
アプリケーション例:
- コンダクティブAFM（Conductive AFM：c-AFM）
- 電気力顕微鏡（Electric Force Microscopy：EFM）
- ケルビンプローブ顕微鏡（Kelvin Probe Force Microscopy：KPFM / SKPFM）
- 走査容量顕微鏡（Scanning Capacitance Microscopy：SCM）
- 走査拡がり抵抗顕微鏡（Scanning Spreading Resistance Microscopy：SSRM）
- 半導体デバイスの特性評価
- 二次元材料（2D材料）の電気特性評価
- 強誘電体材料の評価
- 電池・エネルギー材料の評価
- ナノエレクトロニクス分野
- 電気的な故障解析（Electrical Failure Analysis）
主な特長
- 生産終了となった ASYELEC.01 導電性AFMプローブの1対1の直接代替品
- ASYELEC.01ユーザーから高い評価を得てきた Arrow FM カンチレバー形状を継承
- 従来の測定条件や実験ワークフローをそのまま継続して使用可能
- NanoWorldで実績のある Arrow FM プラットフォームを採用
- AFM探針先端およびレーザー反射面（検出面）の両方に耐久性の高いイリジウムコーティングを採用
- 優れた電気伝導性
- 鋭い探針先端と長いライフタイム
