EFM

Name: EFM 電気測定 フォースモジュレーションAFMプローブ
Brand: NanoWorld
SKU: EFM

互換対象SI-DF3F-PI / SI-DF3-R

電気測定　フォースモジュレーションAFMプローブ

製造メーカー: NanoWorld

コーティング: 導電性
AFMティップ形状: 標準

AFM カンチレバー

F 75 kHz

C 2.8 N/m

L 225 µm

*公称値

アプリケーション

日立ハイテクAFMプローブ

適切なAFMパラメータ設定の目安

標準的なアンマウントプローブをパークシステムズのAFMで使用する方法

NanoWorld Pointprobe® EFMプローブは電気力顕微鏡（EFM）用に設計されました。EFMタイプのばね定数とコーティングは電気測定に最適化されています。

高いフォース測定感度を持ち、ノンコンタクトモードやタッピングモードでも使用できます。

Pointprobe® シリーズのAFM,SPMプローブは、静電気の影響を抑えるドーピングをしたモノリシックシリコンで作られています。化学的に不活性で、高感度測定を可能にする高いQ値を持っています。

ティップ形状はピラミッドに近い多角形です。

加えて、非常に鋭いティップ先端を持っています。

この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります

PtIr5 Coating

The PtIr5 coating consists of a 23 nm thick platinum iridium5 layer deposited on both sides of the AFM cantilever. The tip side coating enhances the conductivity of the AFM tip and allows electrical contacts. The detector side coating enhances the reflectance of the laser beam by a factor of 2 and prevents light from interfering within the AFM cantilever.

The coating process is optimized for stress compensation and wear resistance. Wear at the AFM tip can occur if operating in contact-, friction- or force modulation mode. As the coating is almost stress-free the bending of the AFM cantilever due to stress is less than 2 degrees.

AFM ティップ:

形: 標準

半径: < 25 nm

AFM カンチレバー:

形: ビーム

ばね定数: 2.8 N/m (1.2 - 5.5 N/m)*

共振周波数: 75 kHz (60 - 90 kHz)*

長さ: 225 µm (220 - 230 µm)*

幅: 28 µm (22.5 - 32.5 µm)*

厚さ: 3 µm ( 2.5 - 3.5 µm)*

* 典型レンジ

EFM

電気測定 フォースモジュレーションAFMプローブ

製造メーカー: NanoWorld

電気測定　フォースモジュレーションAFMプローブ