磁気力顕微鏡(MFM)モード用モノリシックシリコンAFMプローブです。ティップに磁気モーメント10^-13emu、保磁力約300 Oeのコバルトアロイがコーティングされています。
反転ティップにより、高いサンプルに対しても対称性の良いイメージングを可能にします。また安定したサイズのティップ先端により、高分解能と高い繰り返し再現性をご提供します。
AFMホルダーチップはほとんどの市販AFMに取り付てご使用いただけます。
高品質かつ低価格のプローブをお客様に!
この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります
zipディスクのMFM測定
スキャン BudgetSensors MagneticMulti75-G Asylum MFP-3D AFM システムで測定 75umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
磁気 ZIP ディスク表面の表面形状像 (左) と磁気像 (右)
スキャン BudgetSensors MagneticMulti75-G AFMプローブ, 60 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
HDD 記録メディア面の形状像 (左) と磁気力顕微鏡 (MFM) による位相画像 (右)。磁気スキャン上の明るく表示されている領域と暗く表示されている領域は、磁気双極子の向きが異なる領域を示しておりバイナリの 1 と 0 を格納している。
スキャン BudgetSensors MagneticMulti75-G AFM プローブ MFMモード, 5 umスキャン
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria
500GBハードディスクの磁気力像
スキャン BudgetSensors MagneticMulti75-G AFM プローブ, 10 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
Tapping mode topography (left) and magnetic force microscopy overlaid on topography (right) images of the surface of a harddrive platter. MFM reveals the hidden bits of information stored by magnetizing small regions of a ferromagnetic film. タッピング モードの形状像(左) と、ハードドライブ の表面の形状像 にオーバーレイした磁気力像(右)。 MFM は、強磁性膜の小さな領域を磁化することで、隠された磁気ビット情報を可視化できます。
スキャン BudgetSensors MagneticMulti75-G AFM プローブ, 10umスキャン
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria