鋭いピラミッド状のナノストラクチャを持つ、ティップ評価用のサンプルです。ピラミッドの底面は１辺50-100nmの三角形で、高さは約50–150nmです。先端の曲率半径は5nm以下です。
PA01のナノストラクチャの表面は、高い耐摩耗性を持つ薄膜でコーティングされています。
走査プローブ先端の正確な形状を把握することは、クオリティが高く、正確なＡＦＭ画像を得るために非常に重要です。ナノメートルの曲率半径を有するAFMチップが広く普及するにつれて、AFMティップと同等もしくは、より鋭い構造物が周期的に存在するサンプルが、チップのパラメータを推定するために使われています。
PAストラクチャのAFMイメージ例をご覧ください（上図）
このAFMイメージはOPUS 240AC-NAプローブを使って測定されました。
