1つのAFMチップホルダーに4種のカンチレバーを成形したシリコン製AFMプローブです。コンタクトモード、フォースモジュレーション、ソフトタッピング、高周波タッピング、ノンコンタクトモードと様々なアプリケーションに対応します。
短いカンチレバーの根本部分には台形パターンがあり、目視で位置をできます。
反転ティップにより、高いサンプルに対しても対称性の良いイメージングを可能にします。また安定したサイズのティップ先端により、高分解能と高い繰り返し再現性をご提供します。
AFMホルダーチップはほとんどの市販AFMに取り付けてご使用いただけます。
他のシングルカンチレバータイプのAFMプローブと比べ、測定対象に最適なカンチレバーを測定の直前に選択でき、非常に便利です。様々な種類のカンチレバーを準備しておく必要はありません。
しかしながら、この製品はシングルカンチレバータイプとの置き換えを意味するのではありません。All-In-Oneのそれぞれのカンチレバーの形状は、特殊な機能を持つシングルカンチレバータイプとは異なるからです。
アルミニウム背面コーティングは液中測定には適していませんのでご注意ください!
高品質かつ低価格のプローブをお客様に!
A thin strip of single layer graphene atop a ridged PDMS polymer substrate
スキャン BudgetSensors All-In-One-Al AFM probe, soft tapping mode cantilever (C), 10 micron scan size
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
BudgetSensors CS-20NG calibration nanogrid. Structure-wise, the nanogrid differs from our microgrids by the additional array of circular holes with a 500 nanometer pitch. The images shows the transition between the microarrays and the nanoarray.
スキャン BudgetSensors All-In-One-Al AFM probe, cantilever B (Multi75-like) in contact mode, 20 micron scan size
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria
Topography of the transition area between the shiny polished side of the blade and its sharpened cutting edge.
スキャン BudgetSensors All-In-One-Al AFM probe, cantilever C (Tap150-like), 35 micron scan size
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria