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CONTSC

Contact Mode AFM Probe with Short Cantilever

製造メーカー: NanoWorld

コーティング: コーティング無し
AFMティップ形状: 標準
AFMカンチレバー:
F 25 kHz
C 0.2 N/m
L 225 µm
*公称値

アプリケーション

NanoWorld Pointprobe® CONTSC AFM probe is an alternative cantilever type for contact mode applications. The length of cantilever is reduced with respect to the preferred contact mode type enabling easier exchange with non-contact mode probes for some AFM instruments. Additionally, this probe type allows the application for lateral or friction force mode.

All probes of the Pointprobe® series are made from monolithic silicon which is highly doped to dissipate static charge. They are chemically inert and offer a high mechanical Q-factor for high sensitivity. The tip is shaped like a polygon based pyramid.

Additionally, this probes offers an excellent tip radius of curvature.

この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります

コーティング無し

AFM ティップ:


  • AFM カンチレバー:

  • ビーム
  • 0.2 N/m (0.02 - 0.7 N/m)*
  • 25 kHz (10 - 39 kHz)*
  • 225 µm (220 - 230 µm)*
  • 48 µm (42.5 - 52.5 µm)*
  • 1 µm ( 0.5 - 1.5 µm)*
  • * 典型レンジ
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