これらの AFM プローブ は他のお好きなBudgetSensors AFM プローブ と同時に購入してBudget Combo Boxを作ることができます!
フォースモジュレーションモード、パルスフォースモード(PFM)モード用モノリシックシリコンAFMプローブです。下記の電気測定モードに使用できます:
反転ティップにより、高いサンプルに対しても対称性の良いイメージングを可能にします。また安定したサイズのティップ先端により、高分解能と高い繰り返し再現性をご提供します。
AFMホルダーチップはほとんどの市販AFMに取り付けてご使用いただけます:
高品質かつ低価格のプローブをお客様に!
この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります
Electrostatic Force Microscopy (EFM) test sample with differently biased metal lines. The topographic data (first image) shows two metal lines and the electrostatic force data helps distinguish between the biased line (left, 2 Volts) and the grounded one (right).
スキャン BudgetSensors ElectriMulti75-G AFM probe in Electrostatic Force Microscopy mode, 7 micron scan size
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria
Topography (left), PFM amplitude (center) and PFM phase (right) images of polycrystalline Pb(Zr0.3Ti0.7)O3 thin film
スキャン BudgetSensors ElectriMulti75-G AFM probe in Piezoresponse Force Microscopy (PFM) mode, 1 micron scan size
Image courtesy of Prof. Yunseok Kim Sungkyunkwan University, South Korea
Tapping mode topography (left) and electrostatic force microscopy overlaid on topography (right) images of metal lines on an insulating substrate. EFM helps distinguish the two lines biased at 3V from the grounded one in the middle.
スキャン BudgetSensors ElectriMulti75-G AFM probe, 10 micron scan size
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria
