これらの AFM プローブ は他のお好きなBudgetSensors AFM プローブ と同時に購入してBudget Combo Boxを作ることができます!
高周波数ノンコンタクトモード・タッピングモード用モノリシックシリコンAFMプローブです。下記の電気測定モードに使用できます：
反転ティップにより、高いサンプルに対しても対称性の良いイメージングを可能にします。また安定したサイズのティップ先端により、高分解能と高い繰り返し再現性をご提供します。
AFMホルダーチップはほとんどの市販AFMに取り付けられます。
高品質かつ低価格のプローブをお客様に!
この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります
Anode oxidation of a Si substrate performed with a BudgetSensors ElectriTap300-G AFM probe on a JEOL JSPM-5200 AFM system
スキャン BudgetSensors ElectriTap300-G AFM probe, 4 micron scan size
Image courtesy of Takashi Sueyoshi JEOL Ltd, Japan
スキャン BudgetSensors ElectriTap300-G AFM probe, 8 micron scan size
Image courtesy of Steve Liu, Dual Signal Tech Corp.
Kelvin Probe Measurement on graphene exfoliated on strontium titanate (SrTiO3) obtained in non-contact AFM mode using a frequency shift of -5 Hz. The graphene was irradiated with xenon 23+ ions under grazing incidence of 6°. On monolayer the impact of the ions lead to characteristic folding. In Bias-Image the exposed underlying substrate in this area can be clearly seen. Also, the monolayer shows lower surface potential difference to SrTiO3 than few monolayers.
スキャン BudgetSensors ElectriTap300-G AFM probe on a RHK Technology SPM 1000 Control System
Image courtesy of Benedict Kleine Bussmann, Oliver Ochedowski, Marika Schleberger AG Schleberger, University Duisburg-Essen
