style="text-align: left;">NanoWorld Pointprobe® NCL プローブはノンコンタクトモード・タッピングモード用に、高周波ノンコンタクトモード用のNCHとは別の選択肢として設計されました。
125µmを超える長さのカンチレバーが使用できないSPM、もしくはフィードバックループが400kHz以上の速度に対応していないSPMシステムでも使用できます。高周波共振値を持つノンコンタクトモード用のNCHと比べると、最大スキャン速度が下がりますが、高い測定安定性と優れた感度、高速測定機能を併せ持っています。Pointprobe® シリーズのプローブは、静電気の影響を抑えるドーピングをしたモノリシックシリコンで作られています。化学的に不活性で、高感度測定を可能にする高いQ値を持っています。ティップ形状はピラミッドに近い多角形です。
このプローブタイプは高い測定安定性と優れた感度、高速測定機能を併せ持っています。
ティップとサンプル間に強いコンタクトを必要とする測定にはティップ側にダイヤモンドコートをしたプローブをお勧めします。このコーティングは、高硬度ダイヤモンドにより高い耐摩耗性があります。
典型的なティップ先端の曲率半径は100から200nmです。10nmレベルのナノラフネスの効果で、フラットなサンプルの測定において分解能が向上する場合があります。
CDTは導電性ダイヤモンドコートです。トンネルAFM (コンダクティブ AFM) や走査キャパシタンス顕微鏡 (SCM)などの測定にお使いいただけます。
高い共振周波数や短いカンチレバーを必要とする場合はNanoWorld Pointprobe NW-CDT-NCHR をお使いください。
※類似製品にNanoSensors Point Probe PlusをベースにしたCDT-NCLRがあります。
この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります
