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PPP-CONTSCAuD-10 10 AFM プローブボックス
50,500 円
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Gold Coated Contact Mode AFM Probe with Short Cantilever


コーティング: 反射金コート
AFMティップ形状: 標準
F 25 kHz
C 0.2 N/m
L 225 µm


The new PointProbe®Plus (PPP) combines the well-known features of the proven PointProbe®series such as high application versatility and compatibility with most commercial SPMs with a further reduced and more reproducible tip radius as well as a more defined tip shape. The excellent tip radius and the minimized variation in tip shape provide more reproducible images and enhanced resolution.

The NANOSENSORS™ PPP-CONTSCAuD is an alternative cantilever type for contact mode applications. The length of cantilever is reduced with respect to the preferred contact mode type enabling easier exchange with non-contact mode probes for some AFM instruments. Additionally, this probe type allows the application for lateral or friction force mode.

The probe offers unique features:

  • excellent tip radius of curvature
  • highly doped silicon to dissipate static charge
  • Au coating on detector side of cantilever
  • chemically inert
  • precise alignment of the cantilever position (within +/- 2 µm) when used with the Alignment Chip
  • compatible with PointProbe® Plus XY-Alignment Series


金属膜(金)がカンチレバー背面にコートしてあり、レーザー反射を約2.5倍に高め、かつカンチレバーにおける光学干渉を抑える効果があります。 ストレスを抑えたコーティングにより、カンチレバーの変形は全長の2 % 以下です。

AFM ティップ:

  • AFM カンチレバー:

  • ビーム
  • 0.2 N/m (0.01 - 1.87 N/m)*
  • 25 kHz (1 - 57 kHz)*
  • 225 µm (215 - 235 µm)*
  • 48 µm (40 - 55 µm)*
  • 1 µm ( 0.1 - 2 µm)*
  • * 典型レンジ
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