標準的なアンマウントプローブをパークシステムズのAFMで使用する方法
19シリーズカンチレバーは高い共振周波数と柔らかいばねを併せ持ち、柔らかく、壊れやすいサンプルでも測定ができ、タッピングモードにおいて比較的高速に測定が可能です。
ばね定数が低く、LFMモードでのご使用も可能です。専用のScanAsyst®モードAFMプローブとして設計されたものではありませんが、世界中の多くのお客様により、Bruker ScanAsyst® PeakForce Tapping™モードとの互換性が確認されています。
モノリシックシリコンで作られているHQ AFM プローブは、安定したAFM探針の鋭さ、カンチレバー反射効率とQファクターを実現しています。
この製品はMikroMasch®製です
この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM プローブ, 1200 nmスキャン
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
液相エピタキシーで製作したガリウムヒ素GaAsバッファ層上のガリウムアンチモン（GaSb）量子ドット。量子ドットの高さは約1nm。
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM プローブタッピングモード, 5 umスキャン
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
ガラス基板にデポされたカーボン膜のクラック
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM プローブ, 8 umスキャン, Zレンジ250nm
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
ガラス上のコロイド状炭素膜の自己組織化アルキメデス螺旋パターンの中央領域。サンプルご提供 K. Shtarbova 博士
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM プローブ, 40 umスキャン
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
