19シリーズカンチレバーは高い共振周波数と柔らかいばねを併せ持ち、柔らかく、壊れやすいサンプルでも測定ができ、タッピングモードにおいて比較的高速に測定が可能です。
ブルカー社製AFMプローブ（ScanAsystおよびPeakForce Tapping）互換品です。ばね定数が低く、LFMモードでのご使用も可能です。
この製品はMikroMasch®製です
この製品にはホルダーチップの背面にアライメント溝があります
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM probe, 1200 nanometer scan size
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
Gallium antimonide (GaSb) quantum dots on gallium arsenide GaAs buffer layer obtained by liquid phase epitaxy. The height of the quantum dots is ~1nm.
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM probe in light tapping mode, 5 micron scan size
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
Crack in a carbon layer deposited on a glass substrate
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM probe, 8 micron scan size, 250 nanometer z-height
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
Central region of a self-organized Archimedean spiral pattern in a colloidal carbon film on glass. Sample provided by Dr. K. Shtarbova.
スキャン MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM probe, 40 micron scan size
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
