MikroMasch AFMプローブのご発注数に応じて、自動的に数量値引きが適用されます
35シリーズのプローブは、ホルダーチップの片側にタッピングモードカンチレバーが3本ついており、様々なアプリケーションに使用できます。
AFM non-contact mode topography image of LaAlO3 thin film on SrTiO3 single crystal. One step corresponds to 1 unit cell of SrTiO3 with a height of 0.3905nm.
スキャン MikroMasch HQ:NSC35/Al BS AFM probe, short cantilever on an NT-MDT Ntegra Prima system; 3x1.3 micron scan size
Image courtesy of Dr. Martin Lilienblum, PhD Student at the Department of Materials, ETH Zurich, Switzerland
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