AFMプローブ »

HQ:NSC36/Pt

注文コード / 見積もり依頼を見る*

数量

HQ:NSC36/Pt-15 15 AFM プローブボックス

65,000 65,000 円

数量値引きが適応されています [?]

HQ:NSC36/Pt-50 50 AFM プローブボックス

185,000 185,000 円

ボリュームディスカウントは31,667 円または 14.6%

HQ:NSC36/Pt-100 100 AFM プローブボックス

315,000 315,000 円

ボリュームディスカウントは118,333 円または 27.3%

入手可能製品: 一部在庫あり工場取り寄せの場合は通常10営業日でのお届け

表示価格は税抜き価格です

AFM probe with 3 different soft tapping mode AFM cantilevers by MikroMasch

AFM tip of MikroMasch AFM probe with 3 different soft tapping mode AFM cantilevers

白金コートAFMプローブ探針のSEMイメージ　拡大

3本レバータイプNSCシリーズAFMプローブの模式図

HQ:NSC36/Pt

Name: HQ:NSC36/Pt
Brand: MikroMasch

3本の異なるカンチレバーが付いた導電性フォースモジュレーションモードAFMプローブ

製造メーカー: MikroMasch

コーティング: 導電性
AFMティップ形状: 反転

このプローブにはカンチレバーが 3つあります。

F 90 kHz

C 1 N/m

L 110 µm

F 130 kHz

C 2 N/m

L 90 µm

F 65 kHz

C 0.6 N/m

L 130 µm

*公称値

アプリケーション

適切なAFMパラメータ設定の目安

36シリーズのプローブは、ホルダーチップの片側にフォースモジュレーションモードカンチレバーが3本ついており、様々なアプリケーションに使用できます。

プローブ全体に30nmの導電性白金コーティングをしてあります。コーティングは化学的に不活性で、ティップの曲率半径はおよそ30nmです。

白金をティップからサポートチップ全体に30 nm厚コート　ティップ及びカンチレバー背面両面にコーティングされています

AFM ティップ:

形: 反転

高さ: 15 µm (12 - 18 µm)*

コーンアングル: 40°

半径: < 30 nm

3つ AFM カンチレバー:

カンチレバー A

形: ビーム

ばね定数: 1 N/m (0.1 - 4.6 N/m)*

共振周波数: 90 kHz (30 - 160 kHz)*

長さ: 110 µm (105 - 115 µm)*

幅: 32.5 µm (29.5 - 35.5 µm)*

厚さ: 1 µm ( 0.5 - 1.5 µm)*

カンチレバー B

形: ビーム

ばね定数: 2 N/m (0.2 - 9 N/m)*

共振周波数: 130 kHz (45 - 240 kHz)*

長さ: 90 µm (85 - 95 µm)*

幅: 32.5 µm (29.5 - 35.5 µm)*

厚さ: 1 µm ( 0.5 - 1.5 µm)*

カンチレバー C

形: ビーム

ばね定数: 0.6 N/m (0.06 - 2.7 N/m)*

共振周波数: 65 kHz (25 - 115 kHz)*

長さ: 130 µm (125 - 135 µm)*

幅: 32.5 µm (29.5 - 35.5 µm)*

厚さ: 1 µm ( 0.5 - 1.5 µm)*

* 典型レンジ

Ferroelectric domains on Mg:LiNbO3 crystal

Piezoelectric Force Microscopy (PFM) image of a single crystal, z-cut, Mg:LiNbO3. Ferroelectric domains written by applying -100V to the tip. Blue and yellow areas correspond to positive and negative polariszed domains.

スキャン MikroMasch HQ:NSC36/Pt AFM probe, short cantilever on an NT-MDT Solaris system; 30 micron scan size

Image courtesy of Dr. Martin Lilienblum, PhD Student at the Department of Materials, ETH Zurich, Switzerland